冷场发射扫描电镜（S E M）

型号：S-4700 国别厂家：日本日立公司价格：人民币2600000 万 购置日期：2005 年11 月技术指标：冷场发射型，二次电子图象分辨率在1KV, S=2.1nm， 15KV时为1.5nm 。
15KV,S=2100 0,放大倍数20-500K 。X射线能谱元素分析范围Be-92U。谱线分辨率129.25e V。 功能及应用范围：可以观察和检测非均相有机、无机材料， 及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。能谱附件可对样品进行微区成分分析。送样要求： 送样样品可以为固体、块状、片状、纤维、状及粉末状，但必须为干燥品。应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀性。含水分较多的样品由客户自己处理。观察图象的样品由本室预先喷金，一般情况下，样品大小尽量≤10×10×5mm ，粉末样品在0.5克左右。工作人员：高伟建, 蒋芸（扫描电镜室4106） 联系方式：65880389 wjgao@suda.edu.cn， jiangyun-suny@163.com