仪器型号：S—4700
生产厂家：日本日立公司
仪器说明：
1、主要功能及应用范围：可以观察和检测非均相有机、无机材料，及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。
2、主要规格及技术指标：冷场发射型，二次电子图像分辨率@15KV为1.5nm。@1KV为2.1nm, 最大放大倍数约50万。X射线能谱元素分析范围B5-U92。分辨率129.25eV。
3、联系方式：
设备保管人：陈木子、朱兴、王颖、唐明华、张慧
电话/Email: 0512-65880393/chenmuzi@suda.edu.cn，xzhu13@suda.edu.cn，wangyingsuda@suda.edu.cn，mhtang@suda.edu.cn，huizhang@suda.edu.cn
地点：苏州大学独墅湖校区704幢1楼电镜中心