仪器型号：FEI TECNAI G2 F20
生产厂商：美国 FEI公司
仪器说明：
1、主要功能及应用范围：
该仪器配备了HAADF附件及三维重构样品杆。能获取TEM明场、暗场像、高分辨像、STEM模式下的高角环形暗场像和选区电子衍射；并获取一系列三维重构图片，利用三维重构软件进行样品的重构和分析。
该仪器可完成材料组织形貌、晶体结构、界面结构,表面和缺陷等方面的测试与分析，可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学， 金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。
2、主要规格及技术指标：
加速电压：200KV
放大倍数：25K-1030K
点分辨率：0.24nm
线分辨率：0.102nm
信息分辨率：0.14nm
样品倾斜角度:< ±30°
相机常数: 30-4500 mm；
电子枪：肖特基热场发射电子枪
球差系数Cs/色差系数Cc：1.2mm/1.2mm
3、联系方式：
设备保管人：陈木子、朱兴、王颖、唐明华、张慧
电话/Email: 0512-65880393/chenmuzi@suda.edu.cn，xzhu13@suda.edu.cn，wangyingsuda@suda.edu.cn，mhtang@suda.edu.cn，huizhang@suda.edu.cn
地点：独墅湖校区704幢1楼电镜中心